Анализатор толщин слоев энергодисперсионный спектрометр анализатор Thick800A в Казахстане

Анализатор толщин слоев энергодисперсионный спектрометр анализатор Thick800A

Эксплуатационные характеристики

• Верхняя оптическая схема
• Анализируемые объекты могут двигаться вверх и вниз
• Высокая точность движений платформы
• Тонкий коллиматор
• Детектор высокого разрешения
• Визуальная CCD камера упрощает процесс работы, делая его максимально наглядным
• Авто подстройка высоты
• Автоматический поиск пятна
• Контрольные точки отмечаются мышью
• Защита и экранирование рентгеновских лучей делают работу оператора полностью безопасной
• Камера большой конструкции

• Модель: Толстые 800A
• Аналитический диапазон: от S до U
• Одновременный анализ на самых 24 элементов или толщин покрытий 5 слоев
• Предел обнаружения: 2 ppm, аналитическое содержание: 2 ppm до 99,9%
• Толщина покрытия: минимально 0.005um , в среднем 20um (это зависит от различных материалов)
• Микро коллиматор (минимальный диаметр: 0,1 мм), тестовое пятно (в пределах 0,2 мм)
• Высокая точность позиционирования подвижной (точность определения местоположения: менее 0,005 мм) платформы
• Дополнительный анализ и идентификационные модели
• Независимые модели коррекции матричных эффектов
• Повторяемость нескольких анализов достигает 0.05um (наружный слой Au менее 1 мкм)
• Воспроизводимость в течение длительного периода: 0.1um (внешний слой Au менее 1 мкм)
• Температурный диапазон: 15 до 30 °C
• Мощность: AC220V ± 5В, AC
• Размер: 576 x 495 x 545 мм
• Вес: 90кг

• Открытая камера для образцов
• 2-D предметный столик с высокоточным передвижением; Система может двигать образец вверх и вниз по оси Z, чтобы реализовать 3-D движение
• Лазерное позиционирующее устройство
• Органическое стекло защиты
• Кремниевый детектор Si-Pin
• Электроника обнаружения сигнала
• Блок подачи высокого напряжения
• Рентгеновская трубка
• Датчи высоты
• Датчик защиты

Анализ содержания и толщин напылений для золота, платины, серебра, других драгоценных металлов и различных ювелирных изделий. Обнаружение толщин покрытий металлов, содержаний нанесенных гальванических покрытий и напылений. В основном применяется в аналитике драгоценных металлов и обработке ювелирных изделий промышленности; банках, продажи ювелирных изделий, гальванической промышленности.