Анализатор слоев напылений покрытий энергодисперсионный спектрометр анализатор Thick8000 с 3D позиционирован в Казахстане

  Анализатор слоев напылений покрытий энергодисперсионный спектрометр анализатор Thick8000 с 3D позиционированием

Эксплуатационные характеристики

• Точная 3D-платформа
• Использование разъема Lan для коннекта с компьютером
• Отличная система наблюдения за образцом посредством CCD камеры
• Усовершенствованная система идентификации изображений
• Обнаружение образца с глубокой выемкой
• Четыре микро-фокусных коллиматора, позволяющих автоматическое переключение
• Двойная защитная процедура для реализации плавного предупреждения столкновений
• Большая площадь детектора высокого разрешения, эффективно уменьшает пределы обнаружения и повышает точности тестирования
• Автоматический режим интеллектуального управления, управление одной кнопкой мыши
• Автоматическая самодиагностика и сброс при запуске
• Платформа выдвигается поднимается по оси Z после открытия крышки
• Платформа задвигается и опускается по оси Z после закрытия крышки и запускается функция автофокуса
• Выбераются контрольные точки, после нажатия мышкой на полном или локальном изображении образца
• Нажиматся кнопка Тест, чтобы начать испытания, получения и отображения результатов

• Аналитический диапазон: от S до U
• Толщина покрытий: как правило, в среднем 20um (она колеблется от материала к материалу)
• Повторяемость: 0,1%
• Стабильность: 0,1%
• SDD детектор: разрешение цене 135eV
• Наблюдение за образцом: две промышленных HD-камеры (общий вид и локальный вид)
• Коллиматор: 0,3 x 0,05 мм, Ф0.1mm, Ф0.2mm и Ф0.3mm
• Размер: 690 (Ш) х 575 (Д) х 660 (В) мм
• Размер камеры: 520 (Ш) х 395 (Д) x150 (H) мм
• Рабочая влажность: ≤70%
• Рабочая температура: 15 ~ 30 °C

• Открытая камера для образцов с 3D позиционирование
• Лазерное позиционирующее устройство
• Органическое стекло защиты
• Кремниевый детектор SDD
• Электроника обнаружения сигнала
• Блок подачи высокого напряжения
• Рентгеновская трубка
• Датчи высоты
• Датчик защиты

Анализ содержания и толщин напылений для золота, платины, серебра, других драгоценных металлов и различных ювелирных изделий. Обнаружение толщин покрытий металлов, содержаний нанесенных гальванических покрытий и напылений. В основном применяется в аналитике драгоценных металлов и обработке ювелирных изделий промышленности; банках, продажи ювелирных изделий, гальванической промышленности.